Abstrakt
Sensors are key components of any control system. Their reliability determines both the correct operation of the system and the effective implementation of control algorithms. Equally important is the ability to respond rapidly to irregularities and potential failures. The use of artificial intelligence not only enables faster anomaly detection but also allows for more frequent self-analysis of devices based on data that is already being transmitted to the system. The proposed approach focuses on exploring the potential of Explainable Artificial Intelligence (XAI) to monitor sensor performance and to detect deviations from normal operation. It also investigates the possibility of utilizing the acquired information to improve control processes.
| Język oryginału | angielski |
|---|---|
| Tytuł publikacji goszczącej | Proceedings - 2025 IEEE International Conference on Big Data, BigData 2025 |
| Redaktorzy | Cheng-Zhong Xu, Leong Hou U, Xueqi Cheng, Jing Gao, Giuseppe Polese, Hong Mei, Paul Boniol, Michiaki Tatsubori, Chen Zhao, Dawei Zhou, Xiaohua Hu |
| Wydawca | Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc. |
| Strony | 4091-4098 |
| Liczba stron | 8 |
| Edycja | 2025 |
| ISBN (elektroniczny) | 9798331594473 |
| Identyfikatory DOI | |
| Status publikacji | Opublikowano - 2025 |
| Wydarzenie | 2025 IEEE International Conference on Big Data, BigData 2025 - Macau, Chiny Czas trwania: 8 gru 2025 → 11 gru 2025 |
Konferencja
| Konferencja | 2025 IEEE International Conference on Big Data, BigData 2025 |
|---|---|
| Kraj/Terytorium | Chiny |
| Miejscowość | Macau |
| Okres | 8/12/25 → 11/12/25 |
Obszary tematyczne ASJC Scopus
- Sztuczna inteligencja
- Sieci komputerowe i komunikacja
- Zastosowania informatyki
- Systemy informacyjne
- Systemy informacyjne i zarządzanie
- Bezpieczeństwo, ryzyko, niezawodność i jakość
Fingerprint
Zanurz się w tematy badawcze publikacji „XAI-Enhanced Sensor Fusion for Reliable Predictive Analytics in Industry 4.0”. Razem tworzą niepowtarzalny odcisk palca.Cytowanie
- APA
- Author
- BIBTEX
- Harvard
- Standard
- RIS
- Vancouver