Abstrakt
Wavelet analysis was used for detection of abrupt changes in sensors signal. The ability to isolate the effect of noise and process changes from analyzing signal was shown, therefore rapid changes due to sensor fault can be magnify through high frequency wavelet coefficients. Wavelet analysis was also used for P phase time arrival identification in one component seismograms from coal mine tremor stations.
| Język oryginału | angielski |
|---|---|
| Strony (od–do) | 315-322 |
| Liczba stron | 8 |
| Czasopismo | Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering |
| Tom | 4516 |
| Identyfikatory DOI | |
| Status publikacji | Opublikowano - 2001 |
| Wydarzenie | Optoelectronic and Electronic Sensors IV - Gliwice, Polska Czas trwania: 13 cze 2000 → 16 cze 2000 |
Obszary tematyczne ASJC Scopus
- Materiały elektroniczne, optyczne i magnetyczne
- Fizyka materii skondensowanej
- Zastosowania informatyki
- Matematyka stosowana
- Inżynieria elektryczna i elektroniczna
Fingerprint
Zanurz się w tematy badawcze publikacji „Wavelet analysis in sensors signal processing”. Razem tworzą niepowtarzalny odcisk palca.Cytowanie
- APA
- Author
- BIBTEX
- Harvard
- Standard
- RIS
- Vancouver