Przeskocz do nawigacji głównej Przeskocz do wyszukiwania Przeskocz do głównej treści

The use of variable load for RF circuit testing

  • Silesian University of Technology

Wyniki badań: Rozdział w książce/raport/materiał konferencyjnyWkład w konferencjęrecenzja

5 Cytowania z bazy Scopus

Abstrakt

The testing and diagnosis catastrophic faults technique for analog high frequency (HF) circuits (passive filters and impedance matching circuits) is described in this paper. The novel method based on load and frequency as testing pair has been proposed. The impact of load on testing and diagnostic has been investigated. The best pairs of load and frequency have been chosen. The proposed approach of testing analog HF circuits allows to increase diagnostic CUT with catastrophic faults and tolerance dispersion. The testing method has been checked for impedance matching circuit from RFID HF reader.

Język oryginałuangielski
Tytuł publikacji goszczącejICSES'08 - ICSES 2008 International Conference on Signals and Electronic Systems, Proceedings
Strony557-560
Liczba stron4
Identyfikatory DOI
Status publikacjiOpublikowano - 2008
WydarzenieICSES 2008 International Conference on Signals and Electronic Systems, ICSES'08 - Krakow, Polska
Czas trwania: 14 wrz 200817 wrz 2008

Seria publikacji

NazwaICSES'08 - ICSES 2008 International Conference on Signals and Electronic Systems, Proceedings

Konferencja

KonferencjaICSES 2008 International Conference on Signals and Electronic Systems, ICSES'08
Kraj/TerytoriumPolska
MiejscowośćKrakow
Okres14/09/0817/09/08

Obszary tematyczne ASJC Scopus

  • Sztuczna inteligencja
  • Sprzęt i architektura
  • Przetwarzanie sygnałów
  • Inżynieria elektryczna i elektroniczna

Fingerprint

Zanurz się w tematy badawcze publikacji „The use of variable load for RF circuit testing”. Razem tworzą niepowtarzalny odcisk palca.

Cytowanie