Abstrakt
An important aspect raised in the article is the practical application of rules dedicated to Poka-Yoke systems using real industrial automation components that enable detection of defective elements. The article includes also an optimization of the structure of constructed devices for an unambiguous determination of the Poka-Yoke [1] criteria and a minimization of the possibility of random errors made by the employee (or intentionally deceives of sensor systems). Despite clear conditions of the method the authors observed a lack of publications related to the description of the implementation of equipment elaborated in accordance with the presented methodology in industrial applications [2]. This article presents the author's Poka-Yoke system used for a detection of drawpieces made of steel (with welded nuts) which are components of systems of passenger cars.
| Język oryginału | angielski |
|---|---|
| Tytuł publikacji goszczącej | Modern Technologies in Industrial Engineering |
| Strony | 399-404 |
| Liczba stron | 6 |
| Identyfikatory DOI | |
| Status publikacji | Opublikowano - 2014 |
| Wydarzenie | 2013 ModTech International Conference on Modern Technologies in Industrial Engineering, ModTech 2013 - Sinaia, Rumunia Czas trwania: 27 cze 2013 → 29 cze 2013 |
Seria publikacji
| Nazwa | Advanced Materials Research |
|---|---|
| Tom | 837 |
| ISSN (drukowany) | 1022-6680 |
Konferencja
| Konferencja | 2013 ModTech International Conference on Modern Technologies in Industrial Engineering, ModTech 2013 |
|---|---|
| Kraj/Terytorium | Rumunia |
| Miejscowość | Sinaia |
| Okres | 27/06/13 → 29/06/13 |
Cele SDG ONZ
Ten wynik przyczynia się do realizacji następujących celów zrównoważonego rozwoju
-
Cel 9 Przemysł, innowacje i infrastruktura
Obszary tematyczne ASJC Scopus
- Inżynieria ogólna
Fingerprint
Zanurz się w tematy badawcze publikacji „The aid of a mistake proofing with the use of mechatronic systems according to the poka-yoke methodology”. Razem tworzą niepowtarzalny odcisk palca.Cytowanie
- APA
- Author
- BIBTEX
- Harvard
- Standard
- RIS
- Vancouver