Przeskocz do nawigacji głównej Przeskocz do wyszukiwania Przeskocz do głównej treści

Testing and Verification of the Deep Neural Networks Against Sparse Pixel Defects

  • Michal Szczepankiewicz
  • , Krystian Radlak
  • , Karolina Szczepankiewicz
  • , Adam Popowicz
  • , Pawel Zawistowski
  • NVIDIA
  • Warsaw University of Technology
  • Vay Technology GmbH
  • Silesian University of Technology

Wyniki badań: Rozdział w książce/raport/materiał konferencyjnyWkład w konferencjęrecenzja

Abstrakt

Deep neural networks can produce outstanding results when applied to image recognition tasks but are susceptible to image defects and modifications. Substantial degradation of the image can be detected by automatic or interactive prevention techniques. However, sparse pixel defects may have a significant impact on the dependability of safety-critical systems, especially autonomous driving vehicles. Such perturbations can limit the perception capabilities of the system while remaining undetected by human observer. The effective generation of such cases facilitates the simulation of real-life challenges caused by sparse pixel defects, like occluded or stained objects. This work introduces a novel sparse adversarial attack generation method based on differential evolution strategy. Additionally, we introduce a novel framework for sparse adversarial attack generation, which can be integrated into the safety-critical systems development process. An empirical evaluation demonstrates that the proposed method outperforms and complements state-of-the-art techniques allowing for complete evaluation of an image recognition system.

Język oryginałuangielski
Tytuł publikacji goszczącejComputer Safety, Reliability, and Security. SAFECOMP 2022 Workshops - DECSoS, DepDevOps, SASSUR, SENSEI, USDAI, and WAISE, Proceedings
RedaktorzyMario Trapp, Erwin Schoitsch, Jérémie Guiochet, Friedemann Bitsch
WydawcaSpringer Science and Business Media Deutschland GmbH
Strony71-82
Liczba stron12
ISBN (drukowany)9783031148613
Identyfikatory DOI
Status publikacjiOpublikowano - 2022
WydarzenieWorkshops on DECSoS, DepDevOps, SASSUR, SENSEI, USDAI, and WAISE, held in conjunction with the 41st International Conference on Computer Safety, Reliability, and Security, SAFECOMP 2022 - Munich, Niemcy
Czas trwania: 6 wrz 20229 wrz 2022

Seria publikacji

NazwaLecture Notes in Computer Science (including subseries Lecture Notes in Artificial Intelligence and Lecture Notes in Bioinformatics)
Tom13415 LNCS
ISSN (drukowany)0302-9743
ISSN (elektroniczny)1611-3349

Konferencja

KonferencjaWorkshops on DECSoS, DepDevOps, SASSUR, SENSEI, USDAI, and WAISE, held in conjunction with the 41st International Conference on Computer Safety, Reliability, and Security, SAFECOMP 2022
Kraj/TerytoriumNiemcy
MiejscowośćMunich
Okres6/09/229/09/22

Obszary tematyczne ASJC Scopus

  • Informatyka teoretyczna
  • Informatyka ogólna

Fingerprint

Zanurz się w tematy badawcze publikacji „Testing and Verification of the Deep Neural Networks Against Sparse Pixel Defects”. Razem tworzą niepowtarzalny odcisk palca.

Cytowanie