System for the characterization of organic transistors

Roman Wyz˙golik; Witold Ilewicz

doi:10.15199/48.2025.09.18

System for the characterization of organic transistors

Przetłumaczony tytuł wkładu: System pomiarowy do wyznaczania charakterystyk tranzystorów organicznych

Roman Wyz˙golik
, Witold Ilewicz

Katedra Pomiarów i Systemów Sterowania (RAU/RAU2)

Silesian University of Technology

Wyniki badań: Wkład do czasopisma › Artykuł › recenzja

Abstrakt

The article presents the work on software that was created in the LabVIEW programming environment for the Keithley 2614B SMU (Source Measurement Unit). The device and software will be used to determine the current-voltage characteristics of OFET (Organic Field-Effect Transistor). The software enables device configuration, acquisition, visualization, and archiving of measurement data.

Przetłumaczony tytuł wkładu	System pomiarowy do wyznaczania charakterystyk tranzystorów organicznych
Język oryginału	angielski
Strony (od–do)	105-109
Liczba stron	5
Czasopismo	Przeglad Elektrotechniczny
Tom	9
Identyfikatory DOI	https://doi.org/10.15199/48.2025.09.18
Status publikacji	Opublikowano - 2025

Obszary tematyczne ASJC Scopus

Inżynieria elektryczna i elektroniczna

Uzyskaj dostęp do dokumentu

10.15199/48.2025.09.18

Inne pliki i linki

Link do publikacji w Scopus

Cytowanie

@article{4f58f8c194de49a98b3ed442f70a8b36,

title = "System for the characterization of organic transistors",

abstract = "The article presents the work on software that was created in the LabVIEW programming environment for the Keithley 2614B SMU (Source Measurement Unit). The device and software will be used to determine the current-voltage characteristics of OFET (Organic Field-Effect Transistor). The software enables device configuration, acquisition, visualization, and archiving of measurement data.",

keywords = "LabVIEW, OFET, measurement systems",

author = "Roman Wyz˙golik and Witold Ilewicz",

year = "2025",

doi = "10.15199/48.2025.09.18",

language = "English",

volume = "9",

pages = "105--109",

journal = "Przeglad Elektrotechniczny",

issn = "0033-2097",

publisher = "Wydawnictwo SIGMA-NOT",

}

TY - JOUR

T1 - System for the characterization of organic transistors

AU - Wyz˙golik, Roman

AU - Ilewicz, Witold

PY - 2025

Y1 - 2025

N2 - The article presents the work on software that was created in the LabVIEW programming environment for the Keithley 2614B SMU (Source Measurement Unit). The device and software will be used to determine the current-voltage characteristics of OFET (Organic Field-Effect Transistor). The software enables device configuration, acquisition, visualization, and archiving of measurement data.

AB - The article presents the work on software that was created in the LabVIEW programming environment for the Keithley 2614B SMU (Source Measurement Unit). The device and software will be used to determine the current-voltage characteristics of OFET (Organic Field-Effect Transistor). The software enables device configuration, acquisition, visualization, and archiving of measurement data.

KW - LabVIEW

KW - OFET

KW - measurement systems

UR - https://www.scopus.com/pages/publications/105018926195

U2 - 10.15199/48.2025.09.18

DO - 10.15199/48.2025.09.18

M3 - Article

AN - SCOPUS:105018926195

SN - 0033-2097

VL - 9

SP - 105

EP - 109

JO - Przeglad Elektrotechniczny

JF - Przeglad Elektrotechniczny

ER -

System for the characterization of organic transistors

Abstrakt

Obszary tematyczne ASJC Scopus

Uzyskaj dostęp do dokumentu

Inne pliki i linki

Fingerprint

Cytowanie