Przeskocz do nawigacji głównej Przeskocz do wyszukiwania Przeskocz do głównej treści

Structural diagnostics of composite beams using optimally selected fractional B-spline wavelets

Wyniki badań: Rozdział w książce/raport/materiał konferencyjnyWkład w konferencjęrecenzja

6 Cytowania z bazy Scopus

Abstrakt

The method of structural diagnostics of composite structures presented in this paper is based on discrete wavelet transform of displacements of modal shapes with usage of fractional B-spline wavelets. An application of such wavelets makes possible to improve the sensitivity of the method, which allows for detection and identification of even small damages occurred in the structure. In order to select the most sensitive wavelet bases for the analysis the optimization study was carried out, where the highest ratio of peak, which indicated the damage, to other values of detail coefficients and possibly short support of a peak in the location of the damage were chosen as the optimization criteria. Obtained results allow for the evaluation of the possible best wavelet bases for the damage identification of one-dimensional composite structures.

Język oryginałuangielski
Tytuł publikacji goszczącejAdvances in Intelligent Systems and Computing
RedaktorzyJózef Korbicz, Marek Kowal
WydawcaSpringer Verlag
Strony475-486
Liczba stron12
ISBN (elektroniczny)9783642398803
Identyfikatory DOI
Status publikacjiOpublikowano - 2014
Wydarzenie11th International Conference on Diagnostics of Processes and Systems, DPS 2013 - Lubuski, Polska
Czas trwania: 8 wrz 201311 wrz 2013

Seria publikacji

NazwaAdvances in Intelligent Systems and Computing
Tom230
ISSN (drukowany)2194-5357

Konferencja

Konferencja11th International Conference on Diagnostics of Processes and Systems, DPS 2013
Kraj/TerytoriumPolska
MiejscowośćLubuski
Okres8/09/1311/09/13

Obszary tematyczne ASJC Scopus

  • Inżynieria sterowania i systemów
  • Informatyka ogólna

Fingerprint

Zanurz się w tematy badawcze publikacji „Structural diagnostics of composite beams using optimally selected fractional B-spline wavelets”. Razem tworzą niepowtarzalny odcisk palca.

Cytowanie