Abstrakt
This paper presents an analysis of the magnetic field influence on a planar differential interferometer that uses a magneto-sensitive ferronematic layer. Due to a magnetic field interaction a nematic matrix changes its orientation in a TM mode polarization plane. In consequence, a propagation constant changes only for a TM mode, and a phase difference between TE and TM modes is changed under magnetic field influence. An influence of the optical and geometric parameters of the presented structure on the phase difference of propagating modes is presented.
| Język oryginału | angielski |
|---|---|
| Numer artykułu | 59561L |
| Strony (od–do) | 1-6 |
| Liczba stron | 6 |
| Czasopismo | Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering |
| Tom | 5956 |
| Identyfikatory DOI | |
| Status publikacji | Opublikowano - 2005 |
| Wydarzenie | Integrated Optics: Theory and Applications - Warsaw, Polska Czas trwania: 31 sie 2005 → 2 wrz 2005 |
Obszary tematyczne ASJC Scopus
- Materiały elektroniczne, optyczne i magnetyczne
- Fizyka materii skondensowanej
- Zastosowania informatyki
- Matematyka stosowana
- Inżynieria elektryczna i elektroniczna
Fingerprint
Zanurz się w tematy badawcze publikacji „Planar differential interferometer with ferronematic layer for magnetic field sensing”. Razem tworzą niepowtarzalny odcisk palca.Cytowanie
- APA
- Author
- BIBTEX
- Harvard
- Standard
- RIS
- Vancouver