Przeskocz do nawigacji głównej Przeskocz do wyszukiwania Przeskocz do głównej treści

Pełnofalowa analiza odporności elektroencefalografu na zaburzenia promieniowane

Wyniki badań: Wkład do czasopismaArtykułrecenzja

1 Cytowanie z bazy Scopus

Abstrakt

This paper illustrates numerical analysis of the EEG device radiated immunity. A realistic numerical model of the PCB of device under test with connected wires is developed. The structure is illuminated by a plane wave for different polarizations and directions of incidence. The main purpose of this study is to show the main coupling paths and influence of input filter elements on the level of induced radio-frequency noise voltage in the circuit.

Przetłumaczony tytuł wkładuFull-wave numerical analysis of EEG device radiated immunity
Język oryginałupolski
Strony (od–do)70-73
Liczba stron4
CzasopismoPrzeglad Elektrotechniczny
Tom94
Numer wydania2
Identyfikatory DOI
Status publikacjiOpublikowano - 2018

Słowa kluczowe

  • EEG device
  • Electromagnetic compatibility
  • Numerical analysis
  • Radiated immunity

Obszary tematyczne ASJC Scopus

  • Inżynieria elektryczna i elektroniczna

Fingerprint

Zanurz się w tematy badawcze publikacji „Pełnofalowa analiza odporności elektroencefalografu na zaburzenia promieniowane”. Razem tworzą niepowtarzalny odcisk palca.

Cytowanie