Przeskocz do nawigacji głównej Przeskocz do wyszukiwania Przeskocz do głównej treści

Optimizing the organic solar cell manufacturing process by means of AFM measurements and neural networks

  • University of Catania
  • Ben-Gurion University of the Negev

Wyniki badań: Wkład do czasopismaArtykułrecenzja

43 Cytowania z bazy Scopus

Abstrakt

In this paper we devise a neural-network-based model to improve the production workflow of organic solar cells (OSCs). The investigated neural model is used to reckon the relation between the OSC's generated power and several device's properties such as the geometrical parameters and the active layers thicknesses. Such measurements were collected during an experimental campaign conducted on 80 devices. The collected data suggest that the maximum generated power depends on the active layer thickness. The mathematical model of such a relation has been determined by using a feedforward neural network (FFNN) architecture as a universal function approximator. The performed simulations show good agreement between simulated and experimental data with an overall error of about 9%. The obtained results demonstrate that the use of a neural model can be useful to improve the OSC manufacturing processes.

Język oryginałuangielski
Numer artykułu1221
CzasopismoEnergies
Tom11
Numer wydania5
Identyfikatory DOI
Status publikacjiOpublikowano - 2018

Cele SDG ONZ

Ten wynik przyczynia się do realizacji następujących celów zrównoważonego rozwoju

  1. Cel 7 - Przystępna i czysta energia
    Cel 7 Przystępna i czysta energia
  2. Cel 9 - Przemysł, innowacje i infrastruktura
    Cel 9 Przemysł, innowacje i infrastruktura

Obszary tematyczne ASJC Scopus

  • Energia odnawialna, zrównoważony rozwój i środowisko
  • Technologia paliwowa
  • Inżynieria energetyczna i technologia energetyczna
  • Energia (różne)
  • Sterowanie i optymalizacja
  • Inżynieria elektryczna i elektroniczna

Fingerprint

Zanurz się w tematy badawcze publikacji „Optimizing the organic solar cell manufacturing process by means of AFM measurements and neural networks”. Razem tworzą niepowtarzalny odcisk palca.

Cytowanie