Przeskocz do nawigacji głównej Przeskocz do wyszukiwania Przeskocz do głównej treści

Odporność elektroencefalografu na zaburzenia promieniowane - Przykłady analizy numerycznej

  • Silesian University of Technology

Wyniki badań: Wkład do czasopismaArtykułrecenzja

1 Cytowanie z bazy Scopus

Abstrakt

The using of numerical simulations for analysis of the EEG device radiated immunity is presented in this paper. Developing of the numerical model consisting of PCB and leads connected to the human head as well as the model order reduction for increasing the computational efficiency by reduction of the computer resources (RAM, CPU time) without decreasing the accuracy are also demonstrated.

Przetłumaczony tytuł wkładuThe EEG device radiated immunity - Examples of numerical analysis
Język oryginałupolski
Strony (od–do)109-112
Liczba stron4
CzasopismoPrzeglad Elektrotechniczny
Tom92
Numer wydania12
Identyfikatory DOI
Status publikacjiOpublikowano - 2016

Słowa kluczowe

  • EEG device
  • Electromagnetic compatibility
  • Numerical analysis
  • Radiated immunity

Obszary tematyczne ASJC Scopus

  • Inżynieria elektryczna i elektroniczna

Fingerprint

Zanurz się w tematy badawcze publikacji „Odporność elektroencefalografu na zaburzenia promieniowane - Przykłady analizy numerycznej”. Razem tworzą niepowtarzalny odcisk palca.

Cytowanie