Abstrakt
Thin film of hydrogenated amorphous silicon (a-Si:H) were annealed using CO2 laser radiation (λ=10, 6 μm). The influence of this laser treatment on spectral dependencies of real part of refractive index and absorption coefficient of light in a-Si:H are presented. The values of energy gap have decreased while the Urbach energy increased after CO2 laser annealing of a-Si:H. The conductivity and photoconductivity of the annealed material have decreased. The power coefficient of the light intensity dependence of photoconductivity has also changed. The influence of CO2 laser irradiation on the energetic distribution of electron states of a-Si:H is reported.
| Język oryginału | angielski |
|---|---|
| Strony (od–do) | 174-179 |
| Liczba stron | 6 |
| Czasopismo | Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering |
| Tom | 4238 |
| Identyfikatory DOI | |
| Status publikacji | Opublikowano - 2000 |
| Wydarzenie | Laser Technology VI: Applications - Szczecin-Swinoujscie, Pol Czas trwania: 27 wrz 2000 → 1 paź 2000 |
Obszary tematyczne ASJC Scopus
- Materiały elektroniczne, optyczne i magnetyczne
- Fizyka materii skondensowanej
- Zastosowania informatyki
- Matematyka stosowana
- Inżynieria elektryczna i elektroniczna
Fingerprint
Zanurz się w tematy badawcze publikacji „Modification of the optical and electronics parameters a-Si:H as a result of annealed with a CO2 laser radiation”. Razem tworzą niepowtarzalny odcisk palca.Cytuj to
- APA
- Author
- BIBTEX
- Harvard
- Standard
- RIS
- Vancouver