Abstrakt
The background of the paper is the observation of the market tendency and producer constraints which lead to lean production/manufacturing and management. Presented approaches and solutions are the result of the author and her team and integrates three different original systems such as PROEDIMIS, SWZ and KbRS. A number of analytical and simulation models dealing with the problem of system performance prediction and verification, fail when addressing the issue of performance evaluation of a whole system where performance depends on the synchronization of their interactions. From the control perspective it is more appropriate to define a specification for some new desired behavior, and determine whether the specification can be met through a set of controllable events [1,2]. A problem of multiassortment and multi-version production planning and control is presented and the method and support systems are described in the paper.
| Język oryginału | angielski |
|---|---|
| Tytuł publikacji goszczącej | Modern Technologies in Industrial Engineering |
| Strony | 663-668 |
| Liczba stron | 6 |
| Identyfikatory DOI | |
| Status publikacji | Opublikowano - 2014 |
| Wydarzenie | 2013 ModTech International Conference on Modern Technologies in Industrial Engineering, ModTech 2013 - Sinaia, Rumunia Czas trwania: 27 cze 2013 → 29 cze 2013 |
Seria publikacji
| Nazwa | Advanced Materials Research |
|---|---|
| Tom | 837 |
| ISSN (drukowany) | 1022-6680 |
Konferencja
| Konferencja | 2013 ModTech International Conference on Modern Technologies in Industrial Engineering, ModTech 2013 |
|---|---|
| Kraj/Terytorium | Rumunia |
| Miejscowość | Sinaia |
| Okres | 27/06/13 → 29/06/13 |
Cele SDG ONZ
Ten wynik przyczynia się do realizacji następujących celów zrównoważonego rozwoju
-
Cel 9 Przemysł, innowacje i infrastruktura
Obszary tematyczne ASJC Scopus
- Inżynieria ogólna
Fingerprint
Zanurz się w tematy badawcze publikacji „Market oriented approach to the production management on the operational level”. Razem tworzą niepowtarzalny odcisk palca.Cytowanie
- APA
- Author
- BIBTEX
- Harvard
- Standard
- RIS
- Vancouver