Foreword

Hana Kubtov; Andreas Steininger; Maksim Jenihhin; Tomasz Garbolino; Petr Fi er

doi:10.1109/DDECS54261.2022.9770136

Foreword

Hana Kubtov
, Andreas Steininger
, Maksim Jenihhin
, Tomasz Garbolino
, Petr Fi er

Katedra Systemów Cyfrowych (RAU/RAU12)

Wyniki badań: Wkład do czasopisma › Edytorial

Język oryginału	angielski
Strony (od–do)	i
Czasopismo	Proceedings - 2022 25th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, DDECS 2022
Identyfikatory DOI	https://doi.org/10.1109/DDECS54261.2022.9770136
Status publikacji	Opublikowano - 2022
Wydarzenie	25th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, DDECS 2022 - Prague, Republika Czeska Czas trwania: 6 kwi 2022 → 8 kwi 2022

Obszary tematyczne ASJC Scopus

Inżynieria elektryczna i elektroniczna
Bezpieczeństwo, ryzyko, niezawodność i jakość
Sprzęt i architektura

Uzyskaj dostęp do dokumentu

10.1109/DDECS54261.2022.9770136

Inne pliki i linki

Link do publikacji w Scopus

Cytowanie

@article{7c05c10ef86c49a4b0cd8310f0ba7223,

title = "Foreword",

author = "Hana Kubtov and Andreas Steininger and Maksim Jenihhin and Tomasz Garbolino and \{Fi er\}, Petr",

year = "2022",

doi = "10.1109/DDECS54261.2022.9770136",

language = "English",

pages = "i",

journal = "Proceedings - 2022 25th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, DDECS 2022",

note = "25th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, DDECS 2022 ; Conference date: 06-04-2022 Through 08-04-2022",

}

TY - JOUR

T1 - Foreword

AU - Kubtov, Hana

AU - Steininger, Andreas

AU - Jenihhin, Maksim

AU - Garbolino, Tomasz

AU - Fi er, Petr

PY - 2022

Y1 - 2022

UR - https://www.scopus.com/pages/publications/85130424037

U2 - 10.1109/DDECS54261.2022.9770136

DO - 10.1109/DDECS54261.2022.9770136

M3 - Editorial

AN - SCOPUS:85130424037

SP - i

JO - Proceedings - 2022 25th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, DDECS 2022

JF - Proceedings - 2022 25th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, DDECS 2022

T2 - 25th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, DDECS 2022

Y2 - 6 April 2022 through 8 April 2022

ER -