Abstrakt
Rigorous computer analysis of the bipolar surface photovoltage (SPV), including contribution of surface states with U-shaped density distribution and Dember photo-effect, was performed for n-Si and n-GaAs surfaces. The initial surface band bending was varied from accumulation to inversion (in terms of the surface fixed charge QFC), and incident photon flux density from 105 to 1026 cm-2s-1. The behavior of SPV under weak and strong photo-excitation is discussed for possible use in surface characterization.
| Język oryginału | angielski |
|---|---|
| Strony (od–do) | 173-177 |
| Liczba stron | 5 |
| Czasopismo | Vacuum |
| Tom | 54 |
| Numer wydania | 1-4 |
| Identyfikatory DOI | |
| Status publikacji | Opublikowano - lip 1999 |
| Wydarzenie | Proceedings of the 1998 19th International Seminar on Surface Physics - Polanica-Zdroj, Pol Czas trwania: 15 cze 1998 → 19 cze 1998 |
Obszary tematyczne ASJC Scopus
- Instrumentacja
- Fizyka materii skondensowanej
- Powierzchnie, powłoki i filmy
Fingerprint
Zanurz się w tematy badawcze publikacji „Computer simulations of the surface photovoltage on Si and GaAs surfaces with U-shaped surface state continuum”. Razem tworzą niepowtarzalny odcisk palca.Cytowanie
- APA
- Author
- BIBTEX
- Harvard
- Standard
- RIS
- Vancouver