Przeskocz do nawigacji głównej Przeskocz do wyszukiwania Przeskocz do głównej treści

Computer analysis of photoluminescence efficiency at InP surface with U-shaped surface state continuum

  • Silesian University of Technology
  • Hokkaido University

Wyniki badań: Wkład do czasopisma › Artykuł z konferencji › recenzja

11 Cytowania z bazy Scopus

Abstrakt

Rigorous computer simulations of the dependence of the band-to-band photoluminescence quantum efficiency (YPL) were performed for n-type InP surfaces in a wide range of excitation light intensity, Φ (from 1018 to 1025 cm-2 s-1). A strong influence of the density of surface states (NSS) and their capture cross sections for electrons (σn) and holes (σp) on YPL-Φ dependencies was found. We reproduced very well the experimental dependence YPL-Φ, taken from the literature, for the chemically polished InP (1 0 0) surface, which exhibited strong increase of YPL. From the fitting of the experimental data we determined the surface state parameters, including the minimum density of U-shaped continuum (NSS0 = 1011 eV-1 cm-2), and capture cross sections (σn = 10-14 cm2 and σp = 10-13 cm2). The best fitting was carried out using a fully-computer procedure based on a novel Simple-Genetic-Algorithm (SGA) concept. In addition, the behaviour of the effective surface recombination velocity (Seff), and quasi-Fermi levels for electrons (EFn) and holes (EFp) was discussed.

Język oryginałuangielski
Strony (od–do)223-227
Liczba stron5
CzasopismoVacuum
Tom63
Numer wydania1-2
Identyfikatory DOI
Status publikacjiOpublikowano - 2 lip 2001
Wydarzenie20th International Seminar on Surface Physics - Kudowa-Zdroj, Polska
Czas trwania: 19 cze 2000 → 24 cze 2000

Obszary tematyczne ASJC Scopus

  • Instrumentacja
  • Fizyka materii skondensowanej
  • Powierzchnie, powłoki i filmy

Fingerprint

Zanurz się w tematy badawcze publikacji „Computer analysis of photoluminescence efficiency at InP surface with U-shaped surface state continuum”. Razem tworzą niepowtarzalny odcisk palca.

Cytowanie