Przeskocz do nawigacji głównej Przeskocz do wyszukiwania Przeskocz do głównej treści

Computer aided diagnosis workstation for brain tumor assessment

  • Silesian University of Technology

Wyniki badań: Rozdział w książce/raport/materiał konferencyjny › Wkład w konferencję › recenzja

5 Cytowania z bazy Scopus

Abstrakt

The paper presents a Computer Aided Diagnosis (CAD) software for brain tumor detection and analysis from Magnetic Resonance Imaging (MRI). The software utilizes a novel multi-stage method that is capable of dealing with three main types of brain tumors, i.e. HG gliomas, metastases and meningiomas and yields object masks as well as quantitative parameters. The processing method makes use of several available in MRI series: FLAIR, T1-Weighted, Contrast Enhanced T1-Weighted and Perfusion Weighted Images. Image processing methods involve registration of MR series, Region of Interest determination, multi-stage image segmentation, and finally analysis of neovasculature in suspected areas basing on perfusion maps. The brain regions are then labeled as normal, tumor or peritumoral. Relative perfusion coefficient is calculated with respect to a healthy white matter of the brain. Obtained results are presented to the radiologist. The presented CAD workstation is able to communicate with PACS (Picture Archiving and Communication System) using DICOM protocol.

Język oryginałuangielski
Tytuł publikacji goszczącejProceedings of the 22nd International Conference Mixed Design of Integrated Circuits and Systems, MIXDES 2015
RedaktorzyAndrzej Napieralski
WydawcaInstitute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
Strony98-103
Liczba stron6
ISBN (elektroniczny)9788363578060
Identyfikatory DOI
Status publikacjiOpublikowano - 17 sie 2015
Wydarzenie22nd International Conference Mixed Design of Integrated Circuits and Systems, MIXDES 2015 - Torun, Polska
Czas trwania: 25 cze 2015 → 27 cze 2015

Seria publikacji

NazwaProceedings of the 22nd International Conference Mixed Design of Integrated Circuits and Systems, MIXDES 2015

Konferencja

Konferencja22nd International Conference Mixed Design of Integrated Circuits and Systems, MIXDES 2015
Kraj/TerytoriumPolska
MiejscowośćTorun
Okres25/06/15 → 27/06/15

Obszary tematyczne ASJC Scopus

  • Inżynieria elektryczna i elektroniczna

Fingerprint

Zanurz się w tematy badawcze publikacji „Computer aided diagnosis workstation for brain tumor assessment”. Razem tworzą niepowtarzalny odcisk palca.

Cytowanie