Przeskocz do nawigacji głównej Przeskocz do wyszukiwania Przeskocz do głównej treści

ATE for selected low frequency transmission parameters of a general 3-Terminal element

Wyniki badań: Rozdział w książce/raport/materiał konferencyjnyWkład w konferencjęrecenzja

Abstrakt

This paper describes prototype of an automatic test stand for measurement of selected low frequency transmission parameters. There can be measured any 3-Terminal (3T) element or circuit. There measurements are performed automatically in two directions (forward and backward), thus the 3T element can be non-symmetrical. Following parameters are measured: voltage gain, phase shift, overshoots (positive and negative, on input and output) and time delay. The stand can be extended for measurement of a general 4-Terminal (4T) element, if coupling transformer is used. In such case, long power lines can be evaluated e.g. in context of power-line communication (PLC) analysis. The user interface has been created in LabVIEW environment, which allows fast development and flexibility.

Język oryginałuangielski
Tytuł publikacji goszczącejAdvances in Information, Electronic and Electrical Engineering, AIEEE 2015 - Proceedings of the 2015 IEEE 3rd Workshop
RedaktorzyAndrejs Romanovs, Dalius Navakauskas
WydawcaInstitute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
ISBN (elektroniczny)9781509012015
Identyfikatory DOI
Status publikacjiOpublikowano - 28 gru 2015
Wydarzenie3rd IEEE Workshop on Advances in Information, Electronic and Electrical Engineering, AIEEE 2015 - Riga, Łotwa
Czas trwania: 13 lis 201514 lis 2015

Seria publikacji

NazwaAdvances in Information, Electronic and Electrical Engineering, AIEEE 2015 - Proceedings of the 2015 IEEE 3rd Workshop

Konferencja

Konferencja3rd IEEE Workshop on Advances in Information, Electronic and Electrical Engineering, AIEEE 2015
Kraj/TerytoriumŁotwa
MiejscowośćRiga
Okres13/11/1514/11/15

Obszary tematyczne ASJC Scopus

  • Sieci komputerowe i komunikacja
  • Inżynieria elektryczna i elektroniczna

Fingerprint

Zanurz się w tematy badawcze publikacji „ATE for selected low frequency transmission parameters of a general 3-Terminal element”. Razem tworzą niepowtarzalny odcisk palca.

Cytowanie