Przeskocz do nawigacji głównej Przeskocz do wyszukiwania Przeskocz do głównej treści

Application of genetic algorithms in production line classification systems

  • AEA srl
  • Indian Institute of Technology Delhi

Wyniki badań: Wkład w konferencjęArtykułrecenzja

3 Cytowania z bazy Scopus

Abstrakt

This work aims at simplifying 'optimal feature set selection' step in the design of quality control systems used in production line processes by means of genetic algorithms (GA). The goals of the work are (i) to save the engineer-hours spent on examining sample distributions in the feature space to select the right set of features (ii) to extract the smallest possible feature set that returns agreeable classification accuracy, so that the system finally developed adheres to the temporal limitations imposed by the production line. The idea is to encode feature subsets directly or indirectly as chromosomes and then to assign each chromosome a fitness depending upon the number of features it uses and the testing accuracy obtained by using the classifier constructed on the chromosome's features. The paper also discusses a genetic method that discretizes continuous features while simultaneously selecting optimal features for the Decision Tree Classifier. In the last section the performance of this method has been demonstrated by exemplifying a production line diagnosis system that has been built on the feature set prescribed by it.

Język oryginałuangielski
Strony83-88
Liczba stron6
Status publikacjiOpublikowano - 2003
Wydarzenie2003 IEEE International Conference on Industrial Technology, ICIT - Proceedings - Maribor, Słowenia
Czas trwania: 10 gru 200312 gru 2003

Konferencja

Konferencja2003 IEEE International Conference on Industrial Technology, ICIT - Proceedings
Kraj/TerytoriumSłowenia
MiejscowośćMaribor
Okres10/12/0312/12/03

Obszary tematyczne ASJC Scopus

  • Zastosowania informatyki
  • Inżynieria elektryczna i elektroniczna

Fingerprint

Zanurz się w tematy badawcze publikacji „Application of genetic algorithms in production line classification systems”. Razem tworzą niepowtarzalny odcisk palca.

Cytowanie