Abstrakt
Features of a correlated double sampling (CDS) circuit with integration part are presented in article. Its advantages for constant voltage measurement purpose are also highlighted. The main purpose of the article includes noise analysis and requirement of particular integration time selection to improve measurement precision.
| Przetłumaczony tytuł wkładu | Analiza układu podwójnego skorelowanego próbkowania z całkowaniem |
|---|---|
| Język oryginału | angielski |
| Strony (od–do) | 200-203 |
| Liczba stron | 4 |
| Czasopismo | Przeglad Elektrotechniczny |
| Tom | 88 |
| Numer wydania | 2 |
| Status publikacji | Opublikowano - 2012 |
Obszary tematyczne ASJC Scopus
- Inżynieria elektryczna i elektroniczna
Fingerprint
Zanurz się w tematy badawcze publikacji „Analiza układu podwójnego skorelowanego próbkowania z całkowaniem”. Razem tworzą niepowtarzalny odcisk palca.Cytowanie
- APA
- Author
- BIBTEX
- Harvard
- Standard
- RIS
- Vancouver