Przeskocz do nawigacji głównej Przeskocz do wyszukiwania Przeskocz do głównej treści

Analog circuits testing by means of walsh-hadamard spectrum of supply current transient state monitoring

Wyniki badań: Rozdział w książce/raport/materiał konferencyjnyWkład w konferencjęrecenzja

4 Cytowania z bazy Scopus

Abstrakt

The paper presents a practical technique of the analog circuits testing based on its supply current waveform evaluation. The decision about an actual circuit under test state is made during the circuit power turn on stage. The step of the supply voltage with an assumed rise time stimulates the circuit and the differential of its current response is decomposed by means of Walsh-Hadamard transform. The analysis of the spectra in the sequences domain allows to detect faults presence effectively. Finally, after the circuit testing on launching stage, only in case of its healthy state confirmation, it is admitted for use. Thanks to the minimal computational effort necessary for the applied kind of transformation, the proposed method is suitable to build in reliable systems with the use of a cheap microcontroller. Besides, the numerical complexity of the method can be easily reduced additionally by the set of the observed spectra points minimization by means of genetic algorithm.

Język oryginałuangielski
Tytuł publikacji goszczącej2013 6th International Conference on Human System Interactions, HSI 2013
Strony401-406
Liczba stron6
Identyfikatory DOI
Status publikacjiOpublikowano - 2013
Wydarzenie2013 6th International Conference on Human System Interactions, HSI 2013 - Gdansk, Sopot, Polska
Czas trwania: 6 cze 20138 cze 2013

Seria publikacji

Nazwa2013 6th International Conference on Human System Interactions, HSI 2013

Konferencja

Konferencja2013 6th International Conference on Human System Interactions, HSI 2013
Kraj/TerytoriumPolska
MiejscowośćGdansk, Sopot
Okres6/06/138/06/13

Obszary tematyczne ASJC Scopus

  • Interakcja człowiek-komputer

Fingerprint

Zanurz się w tematy badawcze publikacji „Analog circuits testing by means of walsh-hadamard spectrum of supply current transient state monitoring”. Razem tworzą niepowtarzalny odcisk palca.

Cytowanie